X射線無損探傷
時間：2023-09-14型號：廠商性質：生產廠家瀏覽量：21441
X射(she)線無損探傷是一種利用X射(she)線穿透物(wu)體(ti)并通過檢測(ce)和(he)分析所產生的(de)(de)X射(she)線圖像來(lai)評估物(wu)體(ti)內部結構和(he)缺(que)(que)陷的(de)(de)技術。它可(ke)以用于檢測(ce)材料中的(de)(de)裂紋、氣孔、夾(jia)雜物(wu)等(deng)缺(que)(que)陷，以及評估物(wu)體(ti)的(de)(de)完(wan)整性和(he)質量。
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