電子元器件檢測
時間：2023-09-14型號：微焦點X射線檢測系統廠商性質：生產廠家瀏覽量：23341
電子元器件(jian)檢測(ce)系統是一種使(shi)用X射(she)線技術對電子元器件(jian)進(jin)行非破壞性(xing)檢測(ce)的(de)系統。它通過發射(she)高能X射(she)線束照射(she)待(dai)測(ce)元器件(jian)，并利用X射(she)線的(de)透射(she)、散(san)射(she)和吸收等現象，獲取元器件(jian)內(nei)部的(de)結構(gou)、缺(que)陷或異常情況的(de)信息。
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