一(yi)、儀器(qi)特點：

●探測器固定照(zhao)相，區(qu)別于傳統掃描型(xing)衍(yan)射儀，照(zhao)相模(mo)式高效快(kuai)捷，較(jiao)掃描模(mo)式快(kuai)約 5-30 倍，適合做原位(wei)分(fen)析， 各角(jiao)度衍(yan)射信息同一(yi)時間收(shou)集(ji)；高能(neng)量分(fen)辨(bian)率 ,有效降低(di)熒光(guang)本底(di)。

●測(ce)角(jiao)儀θs、θd 臂采伺服(fu)電機驅動(dong)(dong)+光學編碼(ma)控(kong)制(zhi)技術，探(tan)測(ce)器可沿 2θ軸做雙位(wei)置移動(dong)(dong)， 測(ce)角(jiao)儀轉動(dong)(dong)更平穩，衍(yan)射角(jiao)度(du)測(ce)量更準確，線性度(du)更好(hao)。樣品沿θ軸旋轉，控(kong)制(zhi)精度(du) 0.01°,2 θ軸角(jiao)度(du)準確度(du)±0.02°。

●配置多(duo)片探(tan)測(ce)器(qi)單元組(zu)成探(tan)測(ce)器(qi)組(zu)件，沿衍射圓均(jun)勻(yun)固定分布，全角(jiao)度無縫覆(fu)(fu)蓋(gai)；雙層(ceng) 21 片(或單層(ceng) 10 片)面陣探(tan)測(ce)器(qi)，覆(fu)(fu)蓋(gai) 2θ范(fan) 圍： -3°~150°，2D 成像，同(tong)時收(shou)集γ角(jiao)度 信息，二(er)維衍射數據，信息更豐富。

●X 射線(xian)面(mian)陣型光(guang)子計數(shu)半導(dao)體探(tan)(tan)測器，高靈敏，可實(shi)現單光(guang)子計數(shu)，動態范圍大，雙閾(yu)值； 點、線(xian)光(guang)源(yuan)互換，徳(de)拜謝樂與 BB 光(guang)學幾何兼(jian)備，平面(mian)、柱(zhu)狀(zhuang)樣(yang)品兼(jian)容(rong)，探(tan)(tan)測器 2D、1D、OD 模式(shi)兼(jian)容(rong)。且(qie)抗強(qiang)輻(fu)射長時(shi)照射，使用壽(shou)命長。

●散(san)射(she)線(xian)防(fang)護裝(zhuang)置更安全(quan)可靠，樣品(pin)測量時(shi)射(she)線(xian)防(fang)護門自動禁止(zhi)打開，任何情況下都能避免 操作人員受到散(san)射(she)線(xian)輻射(she)。

●緊(jin)湊的尺寸可以安裝在實(shi)驗臺上，不需要特定的實(shi)驗室環境。使用、操作維護簡單。

二、設備各部分(fen)主(zhu)要技術指(zhi)標