文物CT檢(jian)測掃描分析(xi)系統

    文物CT檢測掃描分析系統主要分為高能量CT和微焦點CT。CT是基于計算機斷層掃描技術，對文物進行2D，3D檢測。

應用主要有六個方面：

●對文物內(nei)部結構及形貌進行無損掃描并分析(xi)；

●對(dui)文物的起(qi)源，制作工(gong)藝、產(chan)地和用途提(ti)供重要信(xin)息；

●對(dui)文物的(de)內(nei)部(bu)結構及(ji)尺寸進行二維、三維的(de)測量；

●對文(wen)物的(de)穿孔內壁，鑲嵌加工痕跡(ji)數據分析，及數據庫的(de)建立(li)；

●高(gao)精度獲取(qu)與解(jie)讀(du)文物的三維(wei)信息，并可實現逆向工程(cheng)；

●相位(wei)成像(xiang)功能。

相對優勢：

●開放式(shi)微(wei)焦點射線管(guan)，分辨(bian)率(lv)高，檢測更精(jing)確。

●設(she)(she)備設(she)(she)計緊湊，配置靈活，可滿足客戶(hu)多種要求。

●運(yun)行(xing)穩定，安(an)全可(ke)靠。

●掃描速度快(kuai)，圖像重(zhong)建速度快(kuai)。

    結構設計簡約緊湊，是一套配置靈活、可滿足多種檢測需求的高分辨率 X 射線工業 CT 系統，具有成像分辨率高、掃描速度快、功能豐富、操作方便、運行穩定、使用及維護成本低等特點。

    該系統可(ke)(ke)以配(pei)備160kV以上微米級(ji)分辨率(lv)(lv)X射(she)線(xian)源(yuan)，也可(ke)(ke)配(pei)置(zhi)高能量開(kai)放(fang)式微焦點射(she)線(xian)源(yuan)，zui高能量達到300KV，JIMA分辨率(lv)(lv)zui小可(ke)(ke)達到0.5微米。