微焦點X射線檢測(ce)系(xi)統

　　微焦點X射線檢測系統是集現代計算機軟件技術、精密機械制造技術、光學技術、電子技術、傳感器技術、無損檢測技術和圖像處理技術等于一體的高科技產品。微焦(jiao)點X射線檢(jian)測系統是進行產品研(yan)究、失效分析、高可靠篩(shai)選、質量評價、工藝改(gai)進等工作的(de)有效手段。

    微(wei)焦(jiao)點X射線(xian)檢測系統該(gai)產品技術已(yi)獲得(de)國家發明。

適(shi)用范圍

●適用于(yu)BGA、CSP、Flip chip的檢測(ce)

●PCB板焊接(jie)情(qing)況(kuang)檢測

●各種電池檢測

●IC封裝(zhuang)檢測

●電(dian)容、電(dian)阻等元器件(jian)

●金屬材料、介質(zhi)材料的內部缺陷

●輕質(zhi)材料(liao)的內部結構(gou)以及組件

●電熱管、珍珠(zhu)、精密器件(jian)等

圖像(xiang)處(chu)理系統主(zhu)要功能：

●虛(xu)擬三(san)維成像，實時放大、縮小；

●灰度優化，實時偽彩，人性(xing)化設(she)計；

●電子拍片，多(duo)幀疊加，快速便捷；

●支(zhi)持正/負圖像，邊緣(yuan)可(ke)增強(qiang)；

●精確的(de)曲率測量(liang)及統計；

●的測(ce)量工具；

●BGA焊球測(ce)量技術；

●可進行角度、半(ban)徑、焊(han)點面積(ji)、氣泡面積(ji)測量；

    氣(qi)泡所占比例計(ji)算；焊點坐標定位及(ji)統計(ji)；

●動態(tai)存儲；存貯、打印、DVD讀寫多種(zhong)輸出方式。

主要技術指標

●微焦點(dian)X射線源

●管電(dian)壓調(diao)節范圍：20～160kV

●管電(dian)流調節范(fan)圍：0.1μA~1000μA

●焦點尺寸(cun)：1μm 、5μm、30μm

●JIMA分(fen)辨率：0.5μm~2μm

●放(fang)大倍(bei)數：20倍~3000倍

●檢(jian)測平臺可沿X－Y－Z多軸(zhou)移動(dong)