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X射線無損探傷時間:2023-09-14型號:廠商性質:生產廠家瀏覽量:21441
X射線(xian)無損探傷是(shi)一種(zhong)利用(yong)X射線(xian)穿透物(wu)(wu)體(ti)并通過檢(jian)測和(he)(he)分析所產生(sheng)的(de)X射線(xian)圖像來評估物(wu)(wu)體(ti)內(nei)部(bu)結(jie)構和(he)(he)缺陷的(de)技術。它可以用(yong)于檢(jian)測材(cai)料中的(de)裂(lie)紋(wen)、氣(qi)孔、夾雜(za)物(wu)(wu)等缺陷,以及(ji)評估物(wu)(wu)體(ti)的(de)完(wan)整性(xing)和(he)(he)質量。
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