無損探傷機是利用射線的穿透性和直線性來探傷的方法。這些射線雖然不會像可見光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來接收。常用于探傷的射線有x光和同位素發出的γ射線，分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當這些射線穿過（照射）物質時，該物質的密度越大，射線強度減弱得越多，即射線能穿透過該物質的強度就越小。此時，若用照相底片接收，則底片的感光量就小；若用儀器來接收，獲得的信號就弱。

因此(ci)，無損探(tan)傷機用射(she)(she)(she)(she)線(xian)來照射(she)(she)(she)(she)待探(tan)傷的(de)(de)(de)零部件時，若其內(nei)部有(you)氣孔、夾(jia)渣等缺(que)陷，射(she)(she)(she)(she)線(xian)穿過(guo)有(you)缺(que)陷的(de)(de)(de)路(lu)徑比沒有(you)缺(que)陷的(de)(de)(de)路(lu)徑所透過(guo)的(de)(de)(de)物質密度要小得(de)多，其強度就(jiu)減弱得(de)少些，即透過(guo)的(de)(de)(de)強度就(jiu)大些，若用底片(pian)接(jie)收(shou)，則感(gan)光量就(jiu)大些，就(jiu)可以從底片(pian)上反映出缺(que)陷垂直于射(she)(she)(she)(she)線(xian)方(fang)向的(de)(de)(de)平(ping)面投(tou)影；若用其它接(jie)收(shou)器也同樣可以用儀表(biao)來反映缺(que)陷垂直于射(she)(she)(she)(she)線(xian)方(fang)向的(de)(de)(de)平(ping)面投(tou)影和(he)射(she)(she)(she)(she)線(xian)的(de)(de)(de)透過(guo)量。

由此可見，一般情況下(xia)，射線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是不(bu)易(yi)發現裂紋的(de)，或者說，x射線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)機對(dui)裂紋是不(bu)敏感的(de)。因此，射線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對(dui)氣孔、夾渣、未焊透等(deng)體積(ji)(ji)型缺(que)(que)陷zui敏感。即射線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)適(shi)宜(yi)用于體積(ji)(ji)型缺(que)(que)陷探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適(shi)宜(yi)面積(ji)(ji)型缺(que)(que)陷探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。