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X射線晶體分析儀是研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器
點擊次數：3452 發布時間：2017-04-25
X射線晶體分析儀是研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，主要應用于單晶定向、檢驗缺陷、測定點陣參數、測定殘余應力、研究板材、棒材的結構，研究未知物質的結構和單晶位錯等。
X射線晶體分析儀主要特點：
1.冷卻裝置：自帶制冷系統，無需外接水循環，并自動控制水溫及顯示X光管溫度。
2.外射線計量不大于2.5μSv/h
3.X光管：額定功率2KW(銅靶)
4.定時：單片機自動定時，定時時間任意選擇。
X射線晶體分析儀使用條件
海拔不超過一千米，環境+10℃～40℃。海拔超過一千米時，環境溫度>40℃時，可按一般電氣標準降低使用功率。
X射線晶體分析儀按下列程序進行：
1．打開冷卻水，繼電器觸點K；即接通。
2．接通外電源。
3．按低壓按鈕SB3，交流接觸器KM1接通，即其觸點KM1—l，KM1－2接通。
4．預熱3分鐘后按下高壓按鈕SB4。S表示管流零位開關及過負荷開關，正常情況下應接通，故交流接觸器KMn－l，KMn－2接通。
5．根據X射線管的額定功率確定管壓和管流。調整管壓系通過調壓器改變高壓變壓器的一次電壓來實現。經過由二極管V1，V2及電容C1，C2組成的倍壓全波整流線路將高壓加到X射線管上。高壓值由電壓表讀出。通過燈絲電位器R可調節管流，其數值由電流表讀出。
關閉的過程與起動的過程相反，即先將管流、管壓降至zui小值，再切斷高壓，切斷低壓電及外電源，經歷15min后關閉冷卻水。
使用X射線儀時必須注意安全，防止人身的任何部位受到X射線的直接照射及散射，防止觸及高壓部件及線路，并使工作室有經常的良好通風。
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