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文物檢測新方法！
點擊次數：3398 發布時間：2016-10-08
文物CT檢測掃描分析(xi)系統
文(wen)物CT檢測(ce)掃描分析系統主要(yao)分為高能量CT和微焦點CT。CT是基于計算機(ji)斷層掃描技(ji)術，對文(wen)物進行2D，3D檢測(ce)。
其應用主要有(you)六個方面：
●對文物內部結構及形貌進(jin)行無損掃描并分析；
●對文物的起源，制(zhi)作(zuo)工(gong)藝(yi)、產地和用途提供重(zhong)要(yao)信息；
●對(dui)文物的(de)內部結構及尺寸進行二維、三維的(de)測(ce)量；
●對文(wen)物的(de)穿孔內(nei)壁，鑲嵌加工痕跡數(shu)據分(fen)析，及數(shu)據庫的(de)建立；
●高精度獲取與解讀文(wen)物的三維信息，并可實現逆向工程；
●相位成像功能(neng)。
文物CT檢測(ce)掃描分析系統(tong)相對優勢(shi)：
●開(kai)放式微焦點射線管，分辨(bian)率高，檢(jian)測(ce)更。
●設備設計緊湊(cou)，配置(zhi)靈活，可滿(man)足客戶多種(zhong)要求。
●運行(xing)穩定，安(an)全可靠(kao)。
●掃描速(su)(su)度快(kuai)，圖像重建(jian)速(su)(su)度快(kuai)。
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