工(gong)業CT技術(shu)在航空發動機單晶葉片壁厚測量(liang)中(zhong)的應用

在(zai)(zai)航空發動(dong)機(ji)葉(xie)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)眾多技術指標(biao)中(zhong)(zhong)，葉(xie)片(pian)(pian)壁(bi)(bi)厚(hou)(hou)是(shi)一(yi)個(ge)非常關鍵的(de)(de)(de)(de)指標(biao)。目前，葉(xie)片(pian)(pian)壁(bi)(bi)厚(hou)(hou)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)方法(fa)主要有超聲測(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)、渦流掃描測(ce)(ce)量(liang)法(fa)、電磁(ci)霍(huo)爾效(xiao)應法(fa)等。其中(zhong)(zhong)，渦流掃描測(ce)(ce)量(liang)法(fa)因葉(xie)片(pian)(pian)外形的(de)(de)(de)(de)原(yuan)因，檢測(ce)(ce)復(fu)雜(za)(za)，容(rong)易造成(cheng)測(ce)(ce)量(liang)誤差；電磁(ci)霍(huo)爾效(xiao)應法(fa)重復(fu)定(ding)位性(xing)低，無法(fa)得到(dao)一(yi)致性(xing)較(jiao)(jiao)(jiao)高(gao)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)結(jie)果(guo)，但在(zai)(zai)單(dan)晶葉(xie)片(pian)(pian)和型腔復(fu)雜(za)(za)葉(xie)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)應用中(zhong)(zhong)具有一(yi)定(ding)局限(xian)性(xing)：單(dan)晶材料的(de)(de)(de)(de)各向異性(xing)，造成(cheng)超聲波(bo)(bo)速(su)的(de)(de)(de)(de)各向異性(xing)，給單(dan)晶葉(xie)片(pian)(pian)壁(bi)(bi)厚(hou)(hou)的(de)(de)(de)(de)超聲測(ce)(ce)厚(hou)(hou)時入(ru)射聲束與(yu)晶體取向的(de)(de)(de)(de)夾角關系(xi)，可對(dui)單(dan)晶葉(xie)片(pian)(pian)超聲測(ce)(ce)厚(hou)(hou)中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)(de)聲速(su)進行修正，但過程比(bi)較(jiao)(jiao)(jiao)復(fu)雜(za)(za)，探頭定(ding)位困難，測(ce)(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的(de)(de)(de)(de)一(yi)致性(xing)較(jiao)(jiao)(jiao)差；更為糟(zao)糕(gao)的(de)(de)(de)(de)是(shi)，當(dang)單(dan)晶葉(xie)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)型面比(bi)較(jiao)(jiao)(jiao)復(fu)雜(za)(za)是(shi)，入(ru)射波(bo)(bo)在(zai)(zai)葉(xie)片(pian)(pian)內壁(bi)(bi)的(de)(de)(de)(de)反(fan)射比(bi)較(jiao)(jiao)(jiao)復(fu)雜(za)(za)，不能(neng)簡單(dan)通過反(fan)射波(bo)(bo)得到(dao)實際聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)傳播路徑，也(ye)就不能(neng)準(zhun)確地測(ce)(ce)量(liang)單(dan)晶葉(xie)片(pian)(pian)壁(bi)(bi)厚(hou)(hou)。

工業CT技術的(de)主(zhu)要特(te)點(dian)有：不(bu)(bu)受試(shi)件材料種類(lei)、形狀(zhuang)結(jie)(jie)構及(ji)表面狀(zhuang)況等限制；能給出與試(shi)件的(de)幾何結(jie)(jie)構、組分及(ji)密度特(te)性相對應的(de)斷層圖像，且成(cheng)像直觀、目(mu)標(biao)特(te)征不(bu)(bu)受周圍細節的(de)遮擋；可(ke)方便(bian)地測(ce)量(liang)內部結(jie)(jie)果尺寸等。

這些特點正好彌補了超聲測(ce)(ce)厚法檢(jian)測(ce)(ce)單晶(jing)(jing)材料的(de)(de)不足(zu)，可(ke)很好地解決單晶(jing)(jing)葉(xie)(xie)片(pian)壁厚測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)問題。從單晶(jing)(jing)葉(xie)(xie)片(pian)不同截面的(de)(de)CT圖像可(ke)清晰(xi)的(de)(de)看到單晶(jing)(jing)葉(xie)(xie)片(pian)的(de)(de)內部(bu)結構(gou)，且可(ke)進行(xing)壁厚測(ce)(ce)量(liang)。工業CT技(ji)術能有效的(de)(de)解決我(wo)國航(hang)空發(fa)動(dong)(dong)機領域單晶(jing)(jing)葉(xie)(xie)片(pian)壁厚測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)技(ji)術難題，提(ti)高我(wo)國航(hang)空發(fa)動(dong)(dong)機使(shi)用的(de)(de)安全性和可(ke)靠性。