工(gong)業CT掃描技(ji)術(shu)備受青睞的原因(yin)

工(gong)業CT掃(sao)(sao)描技(ji)(ji)術(shu)(shu)能夠(gou)(gou)在(zai)(zai)制造業等領域(yu)備(bei)受青睞的(de)(de)(de)(de)(de)主要(yao)原(yuan)因之一在(zai)(zai)于(yu)(yu)該技(ji)(ji)術(shu)(shu)能夠(gou)(gou)在(zai)(zai)不對(dui)測(ce)試樣品進行拆分、破壞的(de)(de)(de)(de)(de)前(qian)(qian)提下(xia)快(kuai)速檢(jian)查出具有(you)復(fu)雜外形(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)樣品內部特性(xing)。這在(zai)(zai)經常需要(yao)對(dui)零(ling)部件進行嚴格(ge)檢(jian)測(ce)和(he)驗(yan)證的(de)(de)(de)(de)(de)航(hang)空航(hang)天領域(yu)內更為明顯(xian)。利用現在(zai)(zai)的(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)業CT掃(sao)(sao)描技(ji)(ji)術(shu)(shu)，生產(chan)廠商們(men)將(jiang)會對(dui)他們(men)所生產(chan)的(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)品更加(jia)自信，該技(ji)(ji)術(shu)(shu)能夠(gou)(gou)的(de)(de)(de)(de)(de)提高他們(men)對(dui)于(yu)(yu)產(chan)品質(zhi)量(liang)合格(ge)與否的(de)(de)(de)(de)(de)判斷能力，尤其是對(dui)于(yu)(yu)生產(chan)前(qian)(qian)期階段的(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)。工(gong)業CT掃(sao)(sao)描技(ji)(ji)術(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)進步(bu)的(de)(de)(de)(de)(de)提高了*檢(jian)驗(yan)的(de)(de)(de)(de)(de)準確(que)度(du)，例如產(chan)品的(de)(de)(de)(de)(de)幾何尺寸公(gong)差測(ce)量(liang)等。受益于(yu)(yu)此的(de)(de)(de)(de)(de)并(bing)不僅僅只有(you)航(hang)空航(hang)天領域(yu)，還有(you)汽車制造等領域(yu)。

一般而(er)言(yan)，一套(tao)CT系統的(de)(de)(de)硬件(jian)通常包括(kuo)：高(gao)功率輻射(she)源、機械(xie)掃(sao)描(miao)裝置、X射(she)線檢測(ce)器以(yi)及(ji)(ji)數據處理和圖(tu)像(xiang)重(zhong)建、顯示裝置等(deng)。檢測(ce)獲得的(de)(de)(de)圖(tu)像(xiang)可(ke)(ke)以(yi)使制(zhi)件(jian)內(nei)的(de)(de)(de)缺陷、重(zhong)要(yao)(yao)跡(ji)象及(ji)(ji)某些(xie)內(nei)部特征呈現可(ke)(ke)視化；此(ci)外，掃(sao)描(miao)圖(tu)像(xiang)還可(ke)(ke)以(yi)被切割或者旋轉(zhuan)，并能夠通過與CAD模型(xing)進行比較，實(shi)現對壁厚的(de)(de)(de)測(ce)量及(ji)(ji)孔隙率的(de)(de)(de)檢測(ce)等(deng)。盡管工業CT掃(sao)描(miao)技(ji)術(shu)取得了上述這些(xie)重(zhong)要(yao)(yao)的(de)(de)(de)進展，但事實(shi)上，計算(suan)(suan)機軟(ruan)(ruan)件(jian)圖(tu)像(xiang)處理及(ji)(ji)計算(suan)(suan)能力方面的(de)(de)(de)進步(bu)同樣是(shi)促使該技(ji)術(shu)不斷(duan)發展進步(bu)的(de)(de)(de)一個重(zhong)要(yao)(yao)因素，甚至可(ke)(ke)以(yi)說(shuo)，沒有(you)計算(suan)(suan)機軟(ruan)(ruan)件(jian)方面的(de)(de)(de)進步(bu)，就(jiu)沒有(you)工業CT掃(sao)描(miao)技(ji)術(shu)應用如此(ci)廣泛的(de)(de)(de)今天。