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實用干貨丨X射線熒光光譜分析儀的優缺點
點擊次數：5430 發布時間：2022-04-08
一(yi)臺典型的(de)(de)(de)X射(she)(she)線(xian)熒(ying)光(guang)（XRF）儀器由激發源（X射(she)(she)線(xian)管(guan)(guan)）和探測(ce)系統(tong)構成。X射(she)(she)線(xian)管(guan)(guan)產生(sheng)入射(she)(she)X射(she)(she)線(xian)（一(yi)次(ci)X射(she)(she)線(xian)），激發被測(ce)樣(yang)品。受(shou)激發的(de)(de)(de)樣(yang)品中的(de)(de)(de)每(mei)一(yi)種元素(su)會(hui)放射(she)(she)出二次(ci)X射(she)(she)線(xian)，并且不同的(de)(de)(de)元素(su)所放射(she)(she)出的(de)(de)(de)二次(ci)X射(she)(she)線(xian)具有特(te)定的(de)(de)(de)能量(liang)特(te)性或波(bo)長(chang)特(te)性。探測(ce)系統(tong)測(ce)量(liang)這些放射(she)(she)出來(lai)的(de)(de)(de)二次(ci)X射(she)(she)線(xian)的(de)(de)(de)能量(liang)及(ji)數量(liang)。
然后(hou)，儀器軟件將(jiang)探測系統所收(shou)集到的信息轉換成樣(yang)品中各種元素(su)(su)的種類及含(han)量(liang)。X射(she)線照在(zai)物質上而產生的次級X射(she)線被稱為X射(she)線熒(ying)光(guang)。利用(yong)X射(she)線熒(ying)光(guang)原理，理論(lun)上可以測量(liang)元素(su)(su)周期表中鈹(pi)以后(hou)的每(mei)一種元素(su)(su)。在(zai)實際應用(yong)中，有效(xiao)的元素(su)(su)測量(liang)范圍(wei)為9號元素(su)(su)（F）到92號元素(su)(su)（U）。
A.X射線(xian)用于元(yuan)素分析，是一種新的分析技術，但在(zai)經過二十多年的探索以后，現在(zai)已*成熟，已成為(wei)一種廣泛應(ying)用于冶金、地質、有色、建材、商檢(jian)、環保、衛(wei)生等各(ge)個領域。
B.每個元(yuan)素的(de)特(te)征X射(she)線(xian)的(de)強度(du)除與激發源的(de)能(neng)量和強度(du)有關(guan)外(wai)，還與這種元(yuan)素在(zai)樣品中的(de)含量有關(guan)。
C.根據各(ge)元素的(de)特征X射(she)線的(de)強度，也可以獲(huo)得各(ge)元素的(de)含(han)量信(xin)息。這就是(shi)X射(she)線熒光分析的(de)基本(ben)原理。
X射(she)線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以(yi)做到無損檢測，而不毀壞樣品(pin)。
測試速率高，可以在較少(shao)時間內進行大(da)量樣品測試，分析結果可以通過計(ji)算機直(zhi)接連網輸(shu)出。
分(fen)析速(su)度較快。
對于純金屬可(ke)采用(yong)無標樣分析，精度能達分析要求。
不需要專業實驗室與操作人(ren)員，不引入其它對環境(jing)有害的物質。
X射線熒(ying)光(guang)分析(xi)儀(yi)的缺點
關于非金(jin)屬和界于金(jin)屬和非金(jin)屬之間的(de)元(yuan)素很難做到(dao)精確(que)檢(jian)測(ce)。在用基本(ben)參數法測(ce)試(shi)時，如(ru)果測(ce)試(shi)樣(yang)品里含有C、H、O等(deng)元(yuan)素，會出現(xian)誤差。
不能作(zuo)為(wei)仲裁分(fen)析(xi)方法，檢測結(jie)果不能作(zuo)為(wei)國家認證根據(ju)，不能區分(fen)元素價(jia)態。
對于(yu)鋼鐵等(deng)含有非金(jin)屬元素的合金(jin)，需(xu)要(yao)代表性樣(yang)(yang)品進行(xing)標(biao)準曲線(xian)繪(hui)制(zhi)，分析結果的精(jing)確(que)性是建立在標(biao)樣(yang)(yang)化學分析的基礎上(shang)。
標(biao)準(zhun)曲線模型需求不時(shi)更新，在儀器發生變(bian)(bian)化(hua)或標(biao)準(zhun)樣品發生變(bian)(bian)化(hua)時(shi)，標(biao)準(zhun)曲線模型也要(yao)變(bian)(bian)化(hua)。
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