文(wen)物(wu)CT檢測(ce)掃描分析系統主要分為高能量CT和微焦點(dian)CT。CT是基于計算機斷層掃描技術對文(wen)物(wu)進行2D,3D檢測(ce)。

• 對文物內(nei)部結(jie)構及形貌進(jin)行無損掃描(miao)并分析(xi)。

• 提供文物的(de)起源，制作工藝(yi)、產地和用途等重要信(xin)息。

• 透視文物的(de)內部結構及進行二維、三維尺(chi)寸測量；

• 對(dui)文(wen)物的穿(chuan)孔內壁(bi)，鑲嵌加工痕(hen)跡進行數據分析建立數據庫；

• 高精度獲(huo)取(qu)并解讀文物的三維信息，實現(xian)逆(ni)向工程；

• 具有相位成像功能。?

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• 文物X射線檢測(ce)系(xi)統設備優勢(shi)

• 選(xuan)用開放式微焦點X射線管，分辨率高檢測更(geng)精(jing)準。

• 設(she)備設(she)計緊(jin)湊(cou)、配置(zhi)靈活，可滿(man)足客戶(hu)多種檢(jian)測(ce)需求。

• 掃描速度(du)塊，圖像(xiang)重(zhong)建(jian)速度(du)快。

• 運行穩(wen)定，安(an)全可靠(kao)。

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• 文物X射線檢(jian)測系統(tong)設備(bei)優(you)勢

• 選用開(kai)放式微(wei)焦點(dian)X射線管，分辨率高檢(jian)測更精準。

• 設(she)(she)備設(she)(she)計緊(jin)湊(cou)、配置靈(ling)活，可滿足客戶多種(zhong)檢測需求。

• 掃描速(su)度塊(kuai)，圖像重建(jian)速(su)度快。

• 運行穩定，安全可靠。