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X射線晶體定向儀工作原理
點擊次數：6159 發布時間：2019-12-10
利用X射線衍射原理，精密快速地測定天然和人造單晶(壓電晶體，光學晶體，激光晶體，半導體晶體)的切割角度，與切割機配套可用于上述晶體的定向切割,是精密加工制造晶體器件*的儀器·該儀器廣泛應用于晶體材料的研究，加工，制造行業。
工作原理
X射線晶體(ti)(ti)(ti)(ti)定向(xiang)儀(yi)利用X射線衍射原理，精(jing)密快速地測(ce)定天然和人造(zao)單晶(壓(ya)電晶體(ti)(ti)(ti)(ti)、光(guang)學晶體(ti)(ti)(ti)(ti)、激光(guang)晶體(ti)(ti)(ti)(ti)、半導體(ti)(ti)(ti)(ti)晶體(ti)(ti)(ti)(ti))的(de)切(qie)割角(jiao)度，與(yu)切(qie)割機配套可用于(yu)上(shang)述(shu)晶體(ti)(ti)(ti)(ti)的(de)定向(xiang)切(qie)割，是精(jing)密加(jia)工(gong)(gong)制造(zao)晶體(ti)(ti)(ti)(ti)器件*的(de)儀(yi)器。該儀(yi)器廣(guang)泛(fan)應用于(yu)晶體(ti)(ti)(ti)(ti)材料的(de)研究(jiu)，加(jia)工(gong)(gong)，制造(zao)行(xing)業。
高(gao)壓變壓器產(chan)(chan)生(sheng)的(de)高(gao)電壓加在X射線管(guan)(guan)上產(chan)(chan)生(sheng)X射線，X射線晶(jing)體定(ding)向儀照射到樣品上，在符合公式n =2dsin 時(shi)，產(chan)(chan)生(sheng)衍(yan)射，衍(yan)射線被(bei)計數管(guan)(guan)接收，通過放(fang)大器的(de)微(wei)安表把它(ta)顯(xian)示(shi)出(chu)來，使用(yong)單色(se)器時(shi)，衍(yan)射線被(bei)單色(se)化后，被(bei)計數器接收，通過放(fang)大器的(de)微(wei)安表把它(ta)顯(xian)示(shi)出(chu)來，這樣做就可以進步其(qi)丈(zhang)量精度。
X射(she)線(xian)(xian)(xian)衍(yan)射(she)法是(shi)(shi)測(ce)定蛋(dan)(dan)白質(zhi)(zhi)晶體結構的(de)極其(qi)重要方法。生物大分(fen)子(zi)X射(she)線(xian)(xian)(xian)晶體學(xue)是(shi)(shi)揭(jie)(jie)示分(fen)子(zi)結構與功能(neng)的(de)科學(xue)。目前還沒有一種工具能(neng)夠用它(ta)直接(jie)觀察到蛋(dan)(dan)白質(zhi)(zhi)內部的(de)原子(zi)和(he)基團(tuan)的(de)排列。雖然電(dian)子(zi)顯(xian)微鏡接(jie)近于看到大分(fen)子(zi)的(de)輪廓。但是(shi)(shi)仍然僅(jin)限(xian)于揭(jie)(jie)露分(fen)子(zi)的(de)大小、形狀(zhuang)、對(dui)稱(cheng)性(xing)和(he)聚集狀(zhuang)態等。通過(guo)X射(she)線(xian)(xian)(xian)衍(yan)射(she)法(X-ray diffraction method)可間接(jie)地研(yan)究蛋(dan)(dan)白質(zhi)(zhi)晶體的(de)空(kong)間結構。對(dui)晶體結構的(de)研(yan)究將(jiang)幫(bang)助人(ren)們從(cong)原子(zi)的(de)水平上了解(jie)物質(zhi)(zhi)。
工作原理
X射線晶體(ti)(ti)(ti)(ti)定向(xiang)儀(yi)利用X射線衍射原理，精(jing)密快速地測(ce)定天然和人造(zao)單晶(壓(ya)電晶體(ti)(ti)(ti)(ti)、光(guang)學晶體(ti)(ti)(ti)(ti)、激光(guang)晶體(ti)(ti)(ti)(ti)、半導體(ti)(ti)(ti)(ti)晶體(ti)(ti)(ti)(ti))的(de)切(qie)割角(jiao)度，與(yu)切(qie)割機配套可用于(yu)上(shang)述(shu)晶體(ti)(ti)(ti)(ti)的(de)定向(xiang)切(qie)割，是精(jing)密加(jia)工(gong)(gong)制造(zao)晶體(ti)(ti)(ti)(ti)器件*的(de)儀(yi)器。該儀(yi)器廣(guang)泛(fan)應用于(yu)晶體(ti)(ti)(ti)(ti)材料的(de)研究(jiu)，加(jia)工(gong)(gong)，制造(zao)行(xing)業。
高(gao)壓變壓器產(chan)(chan)生(sheng)的(de)高(gao)電壓加在X射線管(guan)(guan)上產(chan)(chan)生(sheng)X射線，X射線晶(jing)體定(ding)向儀照射到樣品上，在符合公式n =2dsin 時(shi)，產(chan)(chan)生(sheng)衍(yan)射，衍(yan)射線被(bei)計數管(guan)(guan)接收，通過放(fang)大器的(de)微(wei)安表把它(ta)顯(xian)示(shi)出(chu)來，使用(yong)單色(se)器時(shi)，衍(yan)射線被(bei)單色(se)化后，被(bei)計數器接收，通過放(fang)大器的(de)微(wei)安表把它(ta)顯(xian)示(shi)出(chu)來，這樣做就可以進步其(qi)丈(zhang)量精度。
X射(she)線(xian)(xian)(xian)衍(yan)射(she)法是(shi)(shi)測(ce)定蛋(dan)(dan)白質(zhi)(zhi)晶體結構的(de)極其(qi)重要方法。生物大分(fen)子(zi)X射(she)線(xian)(xian)(xian)晶體學(xue)是(shi)(shi)揭(jie)(jie)示分(fen)子(zi)結構與功能(neng)的(de)科學(xue)。目前還沒有一種工具能(neng)夠用它(ta)直接(jie)觀察到蛋(dan)(dan)白質(zhi)(zhi)內部的(de)原子(zi)和(he)基團(tuan)的(de)排列。雖然電(dian)子(zi)顯(xian)微鏡接(jie)近于看到大分(fen)子(zi)的(de)輪廓。但是(shi)(shi)仍然僅(jin)限(xian)于揭(jie)(jie)露分(fen)子(zi)的(de)大小、形狀(zhuang)、對(dui)稱(cheng)性(xing)和(he)聚集狀(zhuang)態等。通過(guo)X射(she)線(xian)(xian)(xian)衍(yan)射(she)法(X-ray diffraction method)可間接(jie)地研(yan)究蛋(dan)(dan)白質(zhi)(zhi)晶體的(de)空(kong)間結構。對(dui)晶體結構的(de)研(yan)究將(jiang)幫(bang)助人(ren)們從(cong)原子(zi)的(de)水平上了解(jie)物質(zhi)(zhi)。
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