實(shi)時(shi)(shi)成像(xiang)(xiang)檢(jian)(jian)測(ce)同傳統膠片(pian)照相(xiang)(xiang)法相(xiang)(xiang)比，實(shi)時(shi)(shi)成像(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)原(yuan)理有很大的(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)同。傳統照相(xiang)(xiang)法是(shi)(shi)將穿(chuan)過(guo)工(gong)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)X射(she)線(xian)在膠片(pian)上累計感光而形(xing)成潛(qian)影(ying)(ying)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)，再經暗室處(chu)理形(xing)成可(ke)見的(de)(de)(de)(de)透(tou)(tou)照影(ying)(ying)像(xiang)(xiang)，根據(ju)其影(ying)(ying)像(xiang)(xiang)來(lai)評(ping)估工(gong)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)內(nei)部質量情況，得(de)到的(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)是(shi)(shi)靜態影(ying)(ying)像(xiang)(xiang)，是(shi)(shi)不(bu)(bu)可(ke)調(diao)整的(de)(de)(de)(de)。實(shi)時(shi)(shi)成像(xiang)(xiang)系統是(shi)(shi)將穿(chuan)過(guo)工(gong)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)X射(she)線(xian)經圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)探測(ce)器接收并(bing)轉換為數(shu)字圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)信(xin)號(hao)(hao)（早期有模擬信(xin)號(hao)(hao)），經計算(suan)機(ji)系統的(de)(de)(de)(de)處(chu)理，顯示(shi)(shi)或保存該數(shu)字圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)，在此成像(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)(de)過(guo)程中，圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)(de)亮度(du)、對比度(du)、清(qing)晰度(du)等受射(she)線(xian)的(de)(de)(de)(de)電壓、電流(liu)、工(gong)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)位置、透(tou)(tou)照工(gong)藝等參數(shu)變化而有所(suo)不(bu)(bu)同，并(bing)實(shi)時(shi)(shi)反(fan)饋在顯示(shi)(shi)器屏幕上表現出來(lai)，所(suo)調(diao)即所(suo)得(de)。

圖像質(zhi)量多(duo)受系統(tong)選型和工藝的(de)影響，尤其(qi)射線(xian)(xian)源(yuan)的(de)焦點尺(chi)寸、射線(xian)(xian)功(gong)率(lv)(lv)、探測器性能的(de)影響大(da)。越(yue)(yue)小的(de)焦點尺(chi)寸、越(yue)(yue)大(da)的(de)射線(xian)(xian)功(gong)率(lv)(lv)、越(yue)(yue)高的(de)探測器動(dong)態范圍，從(cong)普遍意義來講，圖像清(qing)晰度(du)越(yue)(yue)高。衡量圖像質(zhi)量的(de)技(ji)術參數(shu)主要有圖像分辨(bian)率(lv)(lv)和靈敏度(du)兩個參數(shu)，不(bu)同行業的(de)應用(yong)對(dui)該(gai)參數(shu)的(de)要求不(bu)盡相同，側重點也會(hui)不(bu)同。

實時成像的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測效率和(he)速(su)度(du)，更多地(di)受配套的(de)(de)(de)(de)機械傳動(dong)部(bu)分的(de)(de)(de)(de)影響大(da)，成熟可靠的(de)(de)(de)(de)機械傳動(dong)和(he)控制能為大(da)限度(du)地(di)發揮成像部(bu)分的(de)(de)(de)(de)性能至(zhi)關重要，是檢(jian)測的(de)(de)(de)(de)重要影響因素之一(yi)。完備簡單的(de)(de)(de)(de)自動(dong)控制方法，在確保圖像質量的(de)(de)(de)(de)一(yi)致(zhi)性，可可靠檢(jian)測過程中比(bi)(bi)不可少的(de)(de)(de)(de)。國(guo)內在焊接檢(jian)測、鑄件檢(jian)測、電(dian)路板等檢(jian)測應用系統(tong)中，業已(yi)比(bi)(bi)較成熟，與(yu)國(guo)外(wai)差距不大(da)，基本(ben)處(chu)于同一(yi)水平(ping)，如(ru)(ru)XRIS成像系統(tong)等。但(dan)關鍵(jian)的(de)(de)(de)(de)器(qi)件依然主(zhu)要由(you)國(guo)外(wai)的(de)(de)(de)(de)幾個大(da)公司壟斷(duan)，如(ru)(ru)射線發生器(qi)、探(tan)測器(qi)等，國(guo)內還具有一(yi)定的(de)(de)(de)(de)差距，還需要繼(ji)續(xu)努力。