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射線探傷與超聲波探傷有哪些區別?
由于市場對加工(gong)型企(qi)業的(de)(de)(de)(de)質量要(yao)(yao)求越來越高,也要(yao)(yao)求相應的(de)(de)(de)(de)生產(chan)企(qi)業必須具備(bei)(bei)(bei)產(chan)品質量檢測(ce)(ce)(ce)設備(bei)(bei)(bei)。那么(me)什么(me)樣的(de)(de)(de)(de)設備(bei)(bei)(bei)適合您的(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)需要(yao)(yao)呢?這些(xie)都(dou)要(yao)(yao)取決于您的(de)(de)(de)(de)產(chan)品密(mi)度、尺寸(cun)、檢測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)(de)(de)缺陷(xian)要(yao)(yao)求、每天的(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)數量等(deng)因素(su)。針(zhen)對鑄件的(de)(de)(de)(de)內部檢測(ce)(ce)(ce),X射線(xian)探傷與(yu)超聲波探傷有哪些(xie)區別?
X射(she)(she)線(xian)(xian)對(dui)(dui)(dui)體積型缺(que)(que)陷(xian)(xian)敏(min)感,但(dan)對(dui)(dui)(dui)線(xian)(xian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian),特(te)別是(shi)(shi)(shi)(shi)厚板中細微的未焊(han)透(熔(rong)入缺(que)(que)乏(fa))或微裂(lie)紋等(deng)難于發(fa)現,而(er)(er)超(chao)(chao)聲(sheng)波探傷儀對(dui)(dui)(dui)線(xian)(xian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)敏(min)感,卻對(dui)(dui)(dui)點(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的定量不輕易(yi)定準;射(she)(she)線(xian)(xian)照像對(dui)(dui)(dui)工件外表(biao)要(yao)求(qiu)不高,它是(shi)(shi)(shi)(shi)經(jing)過(guo)底(di)片來評價(jia)(jia)焊(han)接質量的,其特(te)點(dian)是(shi)(shi)(shi)(shi)直觀(guan)且易(yi)于定性和(he)(he)存檔,但(dan)難于確(que)定深度(du)偏向的尺(chi)寸。而(er)(er)超(chao)(chao)聲(sheng)波探傷儀對(dui)(dui)(dui)檢(jian)(jian)測(ce)面的要(yao)求(qiu)較(jiao)嚴(yan)厲(li),它是(shi)(shi)(shi)(shi)經(jing)過(guo)熒光屏上的波形來評價(jia)(jia)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的,其特(te)點(dian)是(shi)(shi)(shi)(shi)易(yi)于確(que)定深度(du),但(dan)不直觀(guan)且不易(yi)存檔,定性要(yao)經(jing)綜合(he)判別,檢(jian)(jian)測(ce)人(ren)(ren)員應本質好(hao)(hao)和(he)(he)責任心強(qiang);射(she)(she)線(xian)(xian)對(dui)(dui)(dui)人(ren)(ren)體有(you)(you)害(hai),故要(yao)防(fang)護,且要(yao)消耗很多的膠片和(he)(he)藥品,檢(jian)(jian)測(ce)費用較(jiao)高,而(er)(er)超(chao)(chao)聲(sheng)波探傷儀對(dui)(dui)(dui)人(ren)(ren)體無害(hai),且檢(jian)(jian)測(ce)費用較(jiao)低;射(she)(she)線(xian)(xian)能檢(jian)(jian)測(ce)粗晶資(zi)料(如奧(ao)氏體焊(han)縫等(deng)),而(er)(er)超(chao)(chao)音(yin)波檢(jian)(jian)測(ce)此類資(zi)料堅苦。 a)射(she)(she)線(xian)(xian):對(dui)(dui)(dui)人(ren)(ren)體有(you)(you)輻射(she)(she)。有(you)(you)底(di)片,對(dui)(dui)(dui)氣(qi)孔、攙(chan)雜(za)等(deng)超(chao)(chao)標缺(que)(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)是(shi)(shi)(shi)(shi)強(qiang)項。英國人(ren)(ren)比(bi)較(jiao)看(kan)好(hao)(hao)此辦(ban)法(fa); b)超(chao)(chao)聲(sheng)波:沒有(you)(you)底(di)片,對(dui)(dui)(dui)裂(lie)紋等(deng)超(chao)(chao)標缺(que)(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)是(shi)(shi)(shi)(shi)強(qiang)項。歐(ou)洲人(ren)(ren)比(bi)較(jiao)看(kan)好(hao)(hao)此辦(ban)法(fa)。
射線能確定缺陷(xian)平面(mian)投影的地位(wei)、巨(ju)細,不(bu)合用(yong)于鍛件(jian)、管材(cai)、棒(bang)(bang)材(cai)、T型接(jie)、角接(jie)以及堆焊層(ceng)(ceng)的檢測。超聲(sheng)能確定缺陷(xian)的地位(wei)和相對尺寸,合用(yong)于鍛件(jian)、管材(cai)、棒(bang)(bang)材(cai)、T型接(jie)、角接(jie)以及堆焊層(ceng)(ceng)的檢測。
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