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X射線探傷儀檢驗規程

點擊次數:7754 發布時間:2016-12-22

X射線探傷簡介  

射線(xian)探傷(shang)是利用射線(xian)可(ke)以穿透物(wu)(wu)質和(he)在物(wu)(wu)質中(zhong)有(you)衰減的(de)(de)特性(xing)(xing)來(lai)發現(xian)其中(zhong)缺(que)(que)(que)陷的(de)(de)一種無損探傷(shang)方法(fa)。它可(ke)以檢(jian)查金(jin)屬和(he)非金(jin)屬材料及(ji)其制品的(de)(de)內部缺(que)(que)(que)陷,如(ru)焊縫中(zhong)的(de)(de)氣孔、夾渣、未焊透等體積性(xing)(xing)缺(que)(que)(que)陷。這種無損探傷(shang)方法(fa)有(you)*的(de)(de)*性(xing)(xing),即檢(jian)驗缺(que)(que)(que)陷的(de)(de)直觀性(xing)(xing)、準(zhun)確性(xing)(xing)和(he)可(ke)靠性(xing)(xing),而且,得到(dao)的(de)(de)射線(xian)底片可(ke)用于缺(que)(que)(que)陷的(de)(de)分(fen)析和(he)作為質量憑證存檔。但此法(fa)也存在著設備(bei)較復雜、成本較高的(de)(de)缺(que)(que)(que)點,并需要(yao)對射線(xian)進行防護。    

X射線的產生  

用來產生X射(she)線的裝(zhuang)置是X射(she)線管(guan)。它由陰(yin)(yin)極(ji)、陽(yang)(yang)極(ji)和(he)真空玻(bo)璃(或金屬陶瓷)外殼(ke)組成,其(qi)簡(jian)單結構和(he)工作原理如圖1所示。陰(yin)(yin)極(ji)通以電流加(jia)熱至白熾狀(zhuang)態(tai)時(shi),其(qi)陽(yang)(yang)極(ji)周圍(wei)形成電子云,當在陽(yang)(yang)極(ji)與陰(yin)(yin)極(ji)間(jian)施(shi)加(jia)高壓時(shi),電子加(jia)速(su)(su)穿過真空空間(jian),高速(su)(su)運動(dong)的電子束集(ji)中轟擊陽(yang)(yang)極(ji)靶子的一個面積(幾平方毫(hao)米左(zuo)右、稱(cheng)實際焦點),電子被阻擋減速(su)(su)和(he)吸(xi)收,其(qi)部分動(dong)能(約1%)轉換為X射(she)線,其(qi)余(yu)99%以上(shang)的能量變成熱能。

X射(she)線的主要性(xing)質 

•不可見,以光速直線傳播。 

•具有(you)可穿透(tou)可見光(guang)不能(neng)穿透(tou)的物(wu)(wu)質如骨骼、金(jin)屬等的能(neng)力,并(bing)且在物(wu)(wu)質中有(you)衰減的特(te)性。 •可以使(shi)(shi)物(wu)(wu)質電離,能(neng)使(shi)(shi)膠片(pian)感光(guang),亦(yi)能(neng)使(shi)(shi)某些(xie)物(wu)(wu)質產生熒光(guang)。   

γ射線(xian)的產生(sheng)及性質 

γ射線是由放射性物質(60Co、192Ir等(deng))內部原子核的衰(shuai)變過(guo)程產(chan)生的。 

γ射(she)(she)線的(de)(de)性(xing)質與X射(she)(she)線相似(si),由(you)于其(qi)波長比X射(she)(she)線短,因而射(she)(she)線能量高(gao),具有更(geng)大的(de)(de)穿透(tou)力。例如,目(mu)前廣泛(fan)使用(yong)的(de)(de)γ射(she)(she)線源(yuan)60Co,它可以(yi)檢查250mm厚的(de)(de)銅質工件、350mm厚的(de)(de)鋁制(zhi)工件和300mm厚的(de)(de)鋼制(zhi)工件。   

射線與物質的相(xiang)互作(zuo)用 

當射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿透(tou)物(wu)質時(shi),由(you)于物(wu)質對射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)有吸(xi)收和(he)散射(she)(she)作用,從而引起射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)能量(liang)的(de)衰減(jian)。 射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)在物(wu)質中的(de)衰減(jian)是(shi)呈負指數(shu)規(gui)律變(bian)化的(de),以強度(du)為I0的(de)一束平行射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)束穿過厚度(du)為δ的(de)物(wu)質為例,穿過物(wu)質后的(de)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)強度(du)為: 

I=I0e-μδ 

式中: 

I:射線透過厚(hou)度δ的(de)物(wu)質的(de)射線強(qiang)度; I0:射線的(de)初始強(qiang)度;

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