文物CT檢測(ce)掃描分析(xi)系統

    文(wen)物CT檢測掃描分析系統主要(yao)分為高能量CT和(he)微焦點CT。CT是基于計算機斷層掃描技術(shu)，對文(wen)物進(jin)行2D，3D檢測。

其應用主要有六個方面：

●對文(wen)物(wu)內部結(jie)構(gou)及(ji)形(xing)貌(mao)進行無損(sun)掃描并分析；

●對文物(wu)的起源，制作(zuo)工藝、產地(di)和用途提供重要(yao)信息；

●對文物的(de)內部結構及(ji)尺寸進行二維、三維的(de)測量；

●對文物(wu)的(de)(de)穿孔(kong)內壁，鑲嵌加工(gong)痕跡(ji)數(shu)據分析，及數(shu)據庫的(de)(de)建(jian)立；

●高精度獲取與(yu)解(jie)讀文物的三維(wei)信息，并可實現逆向(xiang)工程；

●相位成像功能。

文物CT檢測掃描分析(xi)系統(tong)相對優勢：

●開放式微焦點射(she)線管，分辨(bian)率高，檢(jian)測更。

●設(she)備設(she)計緊湊，配置靈(ling)活(huo)，可滿足(zu)客戶多種要求。

●運行(xing)穩定，安(an)全可靠。

●掃描速度快，圖像重建速度快。